電子零件用各種曝光裝置
運用USHIO的光源・照明・光學・校正及搬運技術,實現高性能、高生產性、及低成本的電子零件用曝光裝置。
具有適用於解析力3umL/S~20umL/S、及曝光區域φ100~300mm的各種類型(單面/雙面、全部/部分等)。
特徴
光罩無損害
採用光罩與工作件非接觸的「投影曝光方式」。遮罩是半永久使用,因此降低運轉成本、防止接線缺陷、並提升良品率。
獨特的回路比對方式校正
應用影像處理技術,以依回路比對方式的獨特校正機構。無須專用的校正記號,可依各種工作條件執行高精確度校正。
較深的焦點焦度
透過焦點深度較深(±50~100μm)的投影鏡片,即使是有高低差異的基板或厚膜電阻,亦能執行銳利的類型描繪之曝光。
適用各種作產品
矽晶圓、印刷基本、滾筒及玻璃基板,適用工作與應用軟體的搬運系統。
主要用途
- 石英振盪子
- 感應裝置
- 半導體與雙向矽控整流器
- 電子回路基板(FPC、MCM等)
- 列印頭光學元件
- 電阻與開關
- 材料開發等的實驗用等
測試機介紹
可實施曝光評估等各種測試。詳情請洽詢。
※無法適用部分要求內容,敬請見諒。
洽詢
台北 TEL: (02)2322-4103/ FAX: (02)2394-4140
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