μ-TAS(Micro-Total Analysis Systems)光學測量裝置。吸光度測量與螢光劑測量等適用各種晶片的需求規格。※本產品是採用特殊訂購。
依需求亦可提供光源、鏡片、過濾器、及分光器等零件。
可開發生化晶片產品。
亦可提供輕巧且具有設計性的裝置設計。
亦可從實驗與模擬,進行因應顧客需求的測量系統之設計。
可經由測量對象物依不同限制條件,提供特殊訂購服務。
台北 TEL: (02)2322-4103/ FAX: (02)2394-4140
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